一、滿足試驗標準
·GB/T 2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫。
·GJB150.4A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗。
·GB10589-1989 低溫試驗箱技術條件
·GB/T 2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫。
·GJB150.3A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗。
·GB11158-2008-T 高溫試驗條件
·GB2423.22-1987 溫度變化試驗方法
·GJB 1032-90 電子產品環(huán)境應力篩選方法。
·GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試 驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
·GB10592.2-1989高低溫試驗條件